AOI自動檢測儀濾光片

紫色光譜：380-450nm；可定制中心波長430nm

藍(lán)色光譜：450-475nm；可定制中心波長460nm

青色光譜：476-495nm；可定制中心波長480nm

綠色光譜：495-570nm；可定制中心波長540nm

黃色光譜：570-590nm；可定義中心波長580nm

橙色光譜：590-620nm；可定義中心波長610nm

紅色光譜：620-750nm；可定義中心波長660nm

透紅濾光片

透黃

透藍(lán)（蘭）

透綠

自動光學(xué)檢測（automated optical inspection, AOI）技術(shù)，也稱為機(jī)器視覺檢測（machine vision inspection, MVI）技術(shù)或自動視覺檢測（automated visual inspection, AVI）技術(shù)。

在產(chǎn)品制造過程中，由于各種原因，零部件不可避免的會產(chǎn)生多種缺陷，如印制電路板上出現(xiàn)孔錯位、劃傷、斷路、短路、污染等缺陷，液晶面板的基板玻璃和濾光片表面含有針孔、劃痕、顆粒、mura等缺陷，帶鋼表面產(chǎn)生裂紋、輥印、孔洞、麻點等缺陷，這些缺陷不僅影響產(chǎn)品的性能，嚴(yán)重時甚至?xí)：Φ缴踩瑢τ脩粼斐删薮蠼?jīng)濟(jì)損失。

傳統(tǒng)缺陷檢測方法為人工目視檢測法，目前在手機(jī)、平板顯示、太陽能、鋰電池等諸多行業(yè)，仍然有大量的產(chǎn)業(yè)工人從事這項工作。這種人工視覺檢測方法需要在強(qiáng)光照明條件下進(jìn)行，不僅對檢測人員的眼睛傷害很大，且存在主觀性強(qiáng)、人眼空間和時間分辨率有限、檢測不確定性大、易產(chǎn)生歧義、效率低下等缺點，已很難滿足現(xiàn)代工業(yè)高速、高分辨率的檢測要求。

隨著電子技術(shù)、圖像傳感技術(shù)和計算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展，利用基于光學(xué)圖像傳感的表面缺陷自動光學(xué)（視覺）檢測技術(shù)取代人工目視檢測表面缺陷，已逐漸成為表面缺陷檢測的重要手段，因為這種方法具有自動化、非接觸、速度快、精度高、穩(wěn)定性高等優(yōu)點。

根據(jù)成像方法的不同，AOI又可分為三維（3D）AOI和二維（2D）AOI，三維AOI 主要用于物體外形幾何參數(shù)的測量、零件分組、定位、識別、機(jī)器人引導(dǎo)等場合； 二維AOI主要用于產(chǎn)品外觀（色彩、缺陷等）檢測、不同物體或外觀分類、良疵品檢測與分類等場合